中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測量、批量分析,編程測量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作,單個(gè)精細(xì)器件測量用時(shí)短,大幅提升檢測 throughput。
更新時(shí)間:2025-11-07
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-10-28
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW1白光干涉光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-10-15
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW納米級光學(xué)輪廓白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-10-13
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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中圖儀器0.1nm分辨率白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-09-28
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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